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K系列 博曼BOWMAN高精度鍍層測(cè)量?jī)xK 系列是客戶(hù)測(cè)量各種樣品的理想之選，在高度不超過(guò)9英寸（228 mm）的工件上具有優(yōu)于同類(lèi)產(chǎn)品的12英寸（304 mm...

便攜式超聲探傷儀EPOCH 650EPOCH 650數(shù)字式超聲探傷儀將奧林巴斯領(lǐng)xian行業(yè)的常規(guī)探傷性能及儀器小巧便攜、操作直觀的特點(diǎn)融合在一起。這款探傷儀具...

渦流探傷儀 OmniScan MX ECA/ECT渦流陣列技術(shù)（ECA）以電子方式驅(qū)動(dòng)同一個(gè)探頭中多個(gè)相鄰的渦流感應(yīng)線(xiàn)圈，并解讀來(lái)自這些感應(yīng)線(xiàn)圈的信號(hào)。通過(guò)使用...

奧林巴斯 超聲探傷儀 EPOCH 1000EPOCH 1000系列數(shù)字式超聲探傷儀將常規(guī)便攜式探傷儀的高級(jí)性能和相控陣成像能力結(jié)合在一起。EPOCH 1000、...

相控陣掃查器RollerFORM XLRollerFORM XL 掃查器在設(shè)計(jì)和性能都已經(jīng)過(guò)現(xiàn)場(chǎng)驗(yàn)證的初款 RollerFORM 掃查器的基礎(chǔ)上研制而成，其集成...

奧林巴斯無(wú)損探傷儀OmniScan X3OmniScan X3探傷儀除了繼承以往系列儀器可靠、便利、防水、防塵等優(yōu)點(diǎn)外，在圖像質(zhì)量方面取得了長(zhǎng)足的進(jìn)步。針對(duì)形狀...

EPOCH 6LS 便攜式超聲探傷儀EPOCH 6LS超聲探傷儀機(jī)型簡(jiǎn)潔、輕盈便攜、功能齊備，性能可靠。EPOCH 6LS探傷儀專(zhuān)門(mén)為ZG野外維護(hù)和維修市場(chǎng)而設(shè)...

奧林巴斯 測(cè)厚儀 Magna-Mike 8600Magna-Mike 8600是一款利用簡(jiǎn)單的磁法對(duì)非鐵性材料進(jìn)行可靠且重復(fù)性很高的厚度測(cè)量的便攜式測(cè)厚儀。Ma...

便攜式超聲探傷儀EPOCH 6LT便于攜帶、使用方便的EPOCH 6LT探傷儀是一款符合人體工程學(xué)要求的堅(jiān)固耐用的儀器，不僅可使操作人員得心應(yīng)手地進(jìn)行操作，還可...

布魯克 X射線(xiàn)鍍層測(cè)厚儀M1 ORA是適用于珠寶行業(yè)的臺(tái)式X射線(xiàn)鍍層測(cè)厚儀，結(jié)構(gòu)緊湊、占用空間小。

鍍層測(cè)厚儀M1M1 MISTRAL是采用X射線(xiàn)熒光技術(shù)的光譜儀，可對(duì)大件樣品和鍍層樣品進(jìn)行準(zhǔn)確的分析。分析的元素范圍：原子序數(shù)22號(hào)（鈦）-92號(hào)（鈾）中的元素...

大尺寸鍍層測(cè)厚儀M2 BLIZZARD采用開(kāi)槽設(shè)計(jì)，適用于扁平形狀和尺寸過(guò)大的樣品。

納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)TI 980一臺(tái)優(yōu)異納米力學(xué)測(cè)試儀器所需的要求，實(shí)驗(yàn)上的靈活度與可實(shí)現(xiàn)性，測(cè)量穩(wěn)定性，以及系統(tǒng)設(shè)計(jì)的模塊化。

Hysitron 納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)可以采用TI Premier 的多種基本配置完成常規(guī)測(cè)量的研究，同時(shí)多樣化的升級(jí)選項(xiàng)可以滿(mǎn)足您未來(lái)表征的潛在多樣性的需求。

布魯克電荷靈敏前置放大器 CUBE布魯克電荷靈敏前置放大器 CUBE（立方）是一種以脈沖復(fù)位模式運(yùn)行的單片電荷靈敏式前置放大器，借助外部電阻器，也可以以連續(xù)復(fù)位...

DANTE數(shù)字脈沖處理器DANTE數(shù)字脈沖處理器伽馬射線(xiàn)探測(cè)器信號(hào)，數(shù)字脈沖處理器，前置放大器芯片，X射線(xiàn)信號(hào)，前置放大器芯片，SDD探測(cè)器，同步輻射光源。

薄膜測(cè)厚儀MProbe系列反射光譜干涉法是一種非接觸式、無(wú)損的、快速的光學(xué)薄膜厚度測(cè)量技術(shù)。

反射膜厚儀MProbe VisMProbe Vis薄膜測(cè)厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測(cè)量。

反射膜厚儀MProbe UVVisSRMProbe UVVisSR薄膜測(cè)厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測(cè)量。

反射膜厚儀MProbe RT該機(jī)大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測(cè)量。